更新時間(jian):2022-08-18
TRAL離散探(tan)(tan)測(ce)(ce)(ce)器(qi)(qi)(qi)測(ce)(ce)(ce)試設(she)備(bei)是一套多功能的(de)測(ce)(ce)(ce)試系統(tong),設(she)計于(yu)測(ce)(ce)(ce)試工作波(bo)段在700nm 到16000nm(近紅外(wai)(wai)/ 短(duan)波(bo)紅外(wai)(wai)/ 中波(bo)紅外(wai)(wai)/ 長波(bo)紅外(wai)(wai)或(huo)者(zhe)帶(dai)寬非(fei)選(xuan)擇性)的(de)離散型(xing)或(huo)者(zhe)小型(xing)線陣紅外(wai)(wai)探(tan)(tan)測(ce)(ce)(ce)器(qi)(qi)(qi)參數(shu)的(de)測(ce)(ce)(ce)試系統(tong)。所有類型(xing)的(de)紅外(wai)(wai)探(tan)(tan)測(ce)(ce)(ce)器(qi)(qi)(qi)均支持被(bei)測(ce)(ce)(ce)試:光子探(tan)(tan)測(ce)(ce)(ce)器(qi)(qi)(qi),光電(dian)池/光電(dian)導(dao)探(tan)(tan)測(ce)(ce)(ce)器(qi)(qi)(qi),制冷/非(fei)制冷熱(re)敏(min)探(tan)(tan)測(ce)(ce)(ce)器(qi)(qi)(qi),熱(re)釋電(dian)探(tan)(tan)測(ce)(ce)(ce)器(qi)(qi)(qi)等。
TRAL離散探測器測試設備
TRAL 測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)系(xi)統是一(yi)個模(mo)塊化的(de)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)系(xi)統,可以由(you)以下(xia)三種測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)模(mo)塊組成(cheng):輻射度參(can)數(shu)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)模(mo)塊,光(guang)譜(pu)參(can)數(shu)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)模(mo)塊以及空(kong)間參(can)數(shu)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)模(mo)塊,每(mei)一(yi)個模(mo)塊支持離散/線(xian)陣紅外探測(ce)(ce)(ce)器的(de)不(bu)同參(can)數(shu)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)。
TRAL離散探測器測試設備
TRAL測(ce)(ce)試系(xi)統的輻射(she)度(du)(du)參(can)數(shu)測(ce)(ce)試模(mo)塊中采用可(ke)調節的光束來(lai)照射(she)被(bei)(bei)測(ce)(ce)試紅(hong)(hong)外探(tan)(tan)(tan)(tan)測(ce)(ce)器(qi),紅(hong)(hong)外探(tan)(tan)(tan)(tan)測(ce)(ce)器(qi)產生的輸(shu)出電(dian)子(zi)信號(hao)與輸(shu)入紅(hong)(hong)外輻射(she)功(gong)率(lv)進(jin)行(xing)采集,進(jin)而(er)分析計(ji)算(suan)被(bei)(bei)測(ce)(ce)試的輸(shu)出電(dian)子(zi)信號(hao)以(yi)及(ji)進(jin)入探(tan)(tan)(tan)(tan)測(ce)(ce)器(qi)的輸(shu)入紅(hong)(hong)外輻射(she)功(gong)率(lv)使得計(ji)算(suan)得到被(bei)(bei)測(ce)(ce)試探(tan)(tan)(tan)(tan)測(ce)(ce)器(qi)的輻射(she)度(du)(du)參(can)數(shu):黑體響應(ying)率(lv),響應(ying)度(du)(du),黑體探(tan)(tan)(tan)(tan)測(ce)(ce)率(lv),歸(gui)一化探(tan)(tan)(tan)(tan)測(ce)(ce)率(lv),NEP,暗電(dian)流,量子(zi)效(xiao)率(lv)等。
TRAL測(ce)(ce)試(shi)(shi)系(xi)統的光(guang)(guang)譜參數測(ce)(ce)試(shi)(shi)模塊(kuai)中采用可(ke)調節(jie)波長以及可(ke)變(bian)強度(du)輻射(she)的光(guang)(guang)源照(zhao)射(she)被(bei)測(ce)(ce)試(shi)(shi)紅外(wai)探(tan)測(ce)(ce)器,進而分析計算被(bei)測(ce)(ce)試(shi)(shi)紅外(wai)探(tan)測(ce)(ce)器的電(dian)子信號輸出(chu)來得到相對光(guang)(guang)譜靈敏(min)度(du)。
TRAL測(ce)試(shi)系統的(de)空間(jian)參數(shu)測(ce)試(shi)模塊用于分析(xi)計(ji)(ji)算紅(hong)外探測(ce)器(qi)的(de)空間(jian)參數(shu):調制傳(chuan)遞函數(shu)以及非均勻性,在這(zhe)個(ge)模塊中TRAL 投影(ying)一系列的(de)可變亮(liang)度(du)及空間(jian)位置(zhi)的(de)靶標(biao)圖形(如邊緣(yuan)靶標(biao)或者圓孔(kong)靶標(biao))到(dao)被測(ce)試(shi)的(de)探測(ce)器(qi),分析(xi)計(ji)(ji)算探測(ce)器(qi)產生(sheng)的(de)信號進而計(ji)(ji)算得到(dao)調至傳(chuan)遞函數(shu)以及非均勻性測(ce)試(shi)結果(guo)。
TRAL 測(ce)(ce)試系統(tong)同時支持測(ce)(ce)試光(guang)伏電池。